Analýza a dokumentácia
Technická dokumentácia
Komplexná vstupná a výstupná analýza ultrazvukových sond – certifikovaná podľa ISO 13485
Analýza porúch ultrazvukových sond
Analýza sond v spoločnosti Ortner zahŕňa širokú škálu testovacích a analytických postupov. To znamená, že aj skryté chyby v ultrazvukovej hlavici sa dajú odhaliť včas, skôr ako vedú k strate kvality alebo úplnému zlyhaniu.
Komplexná analýza a kompletná dokumentácia je základom pre našu certifikovanú opravu vašej ultrazvukovej sondy podľa ISO 13485.

Standard Probe Performance Measurement – SPPM

Viacúčelový fantóm
Na kontrolu kvality a údržbu ultrazvukových sond
- Meranie hĺbky penetrácie
- Detekcia neechogénnych bodov
- Určenie rôznych cieľov v stupňoch sivej
- Vhodné pre všetky hlavice: lineárne, kardio, konvexné a TEE

Živé testovanie priamo na ultrazvukovom zariadení
Rozsiahle portfólio ultrazvukových zariadení od všetkých výrobcov
- Vyšetrenie porúch kryštálov
- Testovanie na porušenie kábla
- Testovanie Color Doppler, tkanivový Doppler, analýza CW-, PW-, M-módu

Leakage Test
Kontrola elektrickej bezpečnosti
- Priame meranie zvodového prúdu pri kontakte s pacientom
- Diagnostika vyhovuje/nevyhovuje
- Možno vykonať nezávisle na všetkých ultrazvukových hlaviciach bez ohľadu na výrobcu

C-10 Probetester
Meranie zvyškového prúdu pre TEE sondy
- Priame meranie zvodového prúdu pri kontakte s pacientom
- Automatizovaný proces dezinfekcie sond TEE
- Protokol o teste a dokumentácia procesu po každom spustení
Advanced Probe Performance Measurement – APPM
Capacitance Measurement
Analýza senzorického stavu
Ultrazvuková sonda sa skladá z mnohých jednotlivých prvkov, koaxiálnych káblov a výkonovej elektroniky. Počas merania kapacity sa meria celková statická kapacita, ktorá poskytuje informácie o starnutí a stave sondy.
Transmission Crosstalk Measurement
Meranie vplyvu Crosstalk
Táto metóda merania sa môže použiť na identifikáciu možného poškodenia mechanickej štruktúry piezokryštálov. Napríklad poškodenie oxidáciou v sonde možno rozpoznať už v počiatočnom štádiu.
Intrinsic Characteristics Measurement
Komplexná analýza vnútorných senzorov a komponentov
- X (f) Normalized Loop Frequency Response
- X (t) Normalized Loop Time Response
- S-Loop (f) Wideband Loop Sensitivity
- B (t) Optimum Drive Waveform Signal
- S-LC Characteristic Loop Sensitivity